J.A. Woollam
J.A. Woollam M-2000 Ellipsometer
สเปกโทรสโกปิกเอลลิปโซมิเตอร์สำหรับวิเคราะห์ฟิล์มบาง
สเปกโทรสโกปิกเอลลิปโซมิเตอร์ M-2000 ใช้เทคโนโลยี Rotating Compensator (RCE) ร่วมกับตัวตรวจจับ CCD ความเร็วสูง เก็บข้อมูลกว่า 700 ความยาวคลื่นตั้งแต่ย่าน UV ถึง near-infrared พร้อมกัน วิเคราะห์ความหนาฟิล์ม ดัชนีหักเหแสง และค่าการดูดกลืนของฟิล์มชั้นเดียวหรือหลายชั้น
ข้อมูลจำเพาะ
- Type
- Spectroscopic ellipsometer
- Technology
- Rotating Compensator (RCE)
- Spectral range
- UV to near-infrared
- Wavelengths
- 700+ simultaneous
