PMC Technology
Brands

J.A. Woollam

ผู้ผลิตสเปกโทรสโกปิกเอลลิปโซมิเตอร์จากสหรัฐอเมริกาสำหรับการวิเคราะห์ฟิล์มบางและการวัดทางแสง

Specifications & options

Specifications & options

ช่วงสเปกตรัม

193-1690 นาโนเมตร (RC2)สูงสุด 2500 นาโนเมตร NIRอินฟราเรดกลาง (IR-VASE)

คุณสมบัติที่วัด

ความหนาฟิล์มดัชนีหักเหค่าคงที่ทางแสง

ความยาวคลื่นที่เก็บได้

มากกว่า 1000 ค่าพร้อมกัน

การวิเคราะห์โพลาไรเซชัน

เมทริกซ์มุลเลอร์เต็ม 16 องค์ประกอบ

Why choose

Why choose J.A. Woollam?

เมทริกซ์มุลเลอร์เต็มรูปแบบ

คอมเพนเซเตอร์หมุนคู่เก็บองค์ประกอบเมทริกซ์มุลเลอร์ครบทั้ง 16 ตัวเพื่อวิเคราะห์ตัวอย่างแอนไอโซทรอปิกและตัวอย่างที่ทำให้แสงสูญเสียโพลาไรเซชันได้อย่างสมบูรณ์

เก็บสเปกตรัมรวดเร็ว

ตัวตรวจจับ CCD วัดความยาวคลื่นกว่า 1000 ค่าพร้อมกัน เก็บสเปกตรัมตั้งแต่ UV ถึง NIR ได้ภายในเวลาไม่ถึงหนึ่งวินาที

ไวต่อฟิล์มบางพิเศษ

เอลลิปโซเมตรีที่ไวต่อเฟสสามารถวัดฟิล์มที่บางกว่า 10 นาโนเมตร รวมถึงชั้นโมโนเลเยอร์ที่จัดเรียงตัวเอง

ซอฟต์แวร์ CompleteEASE

แพลตฟอร์มที่ใช้งานง่ายรองรับการเก็บข้อมูล การสร้างแบบจำลองทางแสง และการสร้างรายงานสำหรับเครื่องมือทุกรุ่น

Product series

Product series

Understand each series to find the right fit for your application.

M-2000

M-2000

เอลลิปโซมิเตอร์สเปกโทรสโกปิกอเนกประสงค์ที่ใช้ตัวตรวจจับ CCD เก็บความยาวคลื่นหลายร้อยค่าพร้อมกันเพื่อวิเคราะห์ฟิล์มบางอย่างรวดเร็วและแม่นยำ

RC2

RC2

ระบบคอมเพนเซเตอร์หมุนคู่ที่เก็บเมทริกซ์มุลเลอร์ครบถ้วนตั้งแต่ UV ถึง NIR สำหรับตัวอย่างแอนไอโซทรอปิกและตัวอย่างที่ซับซ้อนที่สุด

alpha-SE

alpha-SE

เอลลิปโซมิเตอร์ขนาดกะทัดรัดราคาประหยัด ออกแบบสำหรับการวัดความหนาฟิล์มและดัชนีหักเหในงานประจำ พร้อมอินเทอร์เฟซที่ใช้งานง่าย

IR-VASE

IR-VASE

เอลลิปโซมิเตอร์อินฟราเรดแบบปรับมุมได้ ให้ความไวสูงต่อความหนาชั้นอิพิแทกเซียล การโดปของซับสเตรต และเกรเดียนต์ของพาหะที่รอยต่อ

มองหารุ่นเฉพาะหรืออะไหล่ (spare part)?

แชตกับทีมงานของเราทาง LINE เราช่วยหารุ่นที่ใช่ให้คุณ

สอบถามทาง LINE