Brands

ZEISS

ผู้นำด้านทัศนศาสตร์จากเยอรมนี ผู้ผลิตกล้องจุลทรรศน์ กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) และระบบถ่ายภาพความแม่นยำ

Specifications & options

เทคโนโลยีการถ่ายภาพ

แสง/สเตอริโอดิจิทัลSEM/FIB-SEMเอกซเรย์ 3 มิติ

การใช้งานทั่วไป

วิเคราะห์ความเสียหายควบคุมคุณภาพวิเคราะห์อนุภาคงานวิจัย

ความละเอียด SEM

ระดับซับนาโนเมตร (FE-SEM)

ช่วงซูม Smartzoom

ซูมสูงสุด 20:1

Why choose

Why choose ZEISS?

ระบบเลนส์อิเล็กตรอนแบบ Gemini ให้ภาพระดับซับนาโนเมตรเพื่อดูโครงสร้างวัสดุและอุปกรณ์ที่ละเอียดที่สุด

ตั้งแต่กล้องสเตอริโอและกล้องจุลทรรศน์แสงไปจนถึง SEM และเอกซเรย์ 3 มิติ ZEISS ครอบคลุมการตรวจสอบตั้งแต่ระดับมาโครถึงนาโน

การถ่ายภาพคอนทราสต์สูงที่ทำซ้ำได้รองรับการวิเคราะห์ความเสียหาย การควบคุมคุณภาพ และการวิเคราะห์อนุภาคในหลากหลายอุตสาหกรรม

แพลตฟอร์มอเนกประสงค์รองรับทั้งงานเซมิคอนดักเตอร์ โลหะ พอลิเมอร์ แบตเตอรี่ และงานวิจัยชีวภาพ

Product series

Understand each series to find the right fit for your application.

แพลตฟอร์มกล้องจุลทรรศน์แสงแบบตั้งตรงสำหรับงานวิเคราะห์วัสดุ การควบคุมคุณภาพ และการตรวจสอบอนุภาคที่ต้องการความแม่นยำ

กล้องจุลทรรศน์สเตอริโอซูมที่ให้ภาพสามมิติสำหรับงานตรวจสอบ การประกอบ และงานในห้องปฏิบัติการทั่วไป

กล้องจุลทรรศน์ดิจิทัลที่มีซูม 20:1 และระยะชัดลึกสำหรับตรวจสอบชิ้นงานขนาดใหญ่ เช่น แผงวงจร PCB

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดอเนกประสงค์และแบบ field emission สำหรับภาพคอนทราสต์สูงที่ kV ต่ำพร้อมการวิเคราะห์ที่ยืดหยุ่น

กล้องจุลทรรศน์เอกซเรย์ 3 มิติแบบไม่ทำลายตัวอย่างสำหรับวิเคราะห์โครงสร้างภายในและการสร้างภาพตัดขวางด้วยคอมพิวเตอร์

Products

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (FE-SEM) ความละเอียดระดับซับนาโนเมตร

แชตกับทีมงานของเราทาง LINE เราช่วยหารุ่นที่ใช่ให้คุณ