ReadyPlanet.com
dot


กด Like เพื่อรับข่าวสารเพิ่มเติม
บริษัท พีเอ็มซี เทคโนโลยี จำกัด

ก่อตั้งขึ้นในปี 2006 โดยการรวม
กลุ่มกันของบริษัท Plant & Mill
และ Crest Technology จำกัด
จากสิงคโปร์ ซึ่งเป็นผู้นำด้านการ
จัดจำหน่ายอุปกรณ์ Mechanical
drive, Automation motion control
, Metrology Test equipment
Motion Control Metrology, และ
Optical products สำหรับธุรกิจ
ประเภท อุตสาหกรรมเกี่ยวกับ
ฮาร์ดดิส , อุตสาหกรรมเกี่ยวกับ
อิเล็กทรอนิกส์ , อุตสาหกรรม
ประเภทยานยนต์ , สถาบันวิจัย
และมหาวิทยาลัย

PMC technology

ได้มุ่งเป้าหมายในการผลิตผลิต-
ภัณท์ที่มีคุณภาพ บริการ และการ
ติดตั้งสินค้าที่มีประสิทธิผลรวมทั้ง
การฝึกสอนการใช้งานสำหรับผู้ใช้
และ การบริการแบบครบวงจร....

 
 
 
 
 
 
 


HSEB article

HSEB ผู้ผลิตและจำหน่ายกล้องจุลทรรศน์อุตสาหกรรมฯคุณภาพสูงจากเยอรมัน (Carl Zeiss)

HSEB
Product Description
  HSEB has developed from a pure development office into a comprehensive middle-sized production company with high scientific-technical potential. Since taking over the business field "Optical Wafer Inspection" from Carl Zeiss SMS in 2004, HSEB has been in a position to offer complete systems for macroscopic and microscopic inspection of wafers and wafer edges for all common wafer types.
HSEB ผู้ผลิตและจำหน่ายกล้องจุลทรรศน์อุตสาหกรรมฯคุณภาพสูงจากCarl Zeiss,Germany และเครื่อง Automatic Wafer Inspection สำหรับโรงงานอุตสาหกรรมฯเซมิคอนดัสเตอร์ฯ, อิเลคโทรนิคส์และคอมพิวเตอร์.
http://www.hseb-dresden.de/

 

 Below you can find a list of the most relevant applications for which our systems are suited. The list is not exhaustive, but it is intended as a quick guide to find the approriate product for your desired application.

 Alternatively you may browse the product categories for Systems and Modules, OEM and Stand-Alone Components or for Software

  • Macro Inspection (MMT 300, MIT 301) 
    • scratches, particles, defocussing, ADI defects
    • bare wafer (incoming wafer QC) inspection
    • MEMS quality control

 

    • thickness measurement of multiple (also buried) films
    • determination of optical properties of films (refractive index, material)
    • critical dimension, overlay and diameter measurement
    • complex CD measurements at different focus levels
    • alignment mark check
  • Edge Inspection (EIS)
    • delamination, chipouts, cracks
    • EBR/WEE width and eccentricity measurement, tool evaluation
    • edge imaging with automatic defect detection and pre-classification
  • F/A and R&D Lab Applications
    • versatile stand-alone microscopes for all common contrast techniques (Axiotron 2, CSM VIS-UV)
    • brightfield, darkfield, differential interference contrast (DIC), white-light confocal (CSM), fluorescence and polarization microscopy
    •  i-line, DUV and NIR microscopy
    • incident and transmitted light illumination
    • high-end optics by Carl Zeiss, objective range from 1,25x ... 150x

 

 

 

 



Name
Telephone
E-Mail
Topic
Description



Optical  & Accessory 

SUNNY Instruments article
ZEISS MICROSCOPE
Watec
iSolution
Optronics
Jenoptik Jena
Scalar



Copyright © 2010 All Rights Reserved.