| Spectroscopic Ellipsometers and Thin Film Characterization |
| Product |
Description |
 |
The J. A. Woollam Co. manufacturers Spectroscopic Ellipsometers for non-destructive thin film and bulk material characterization. For example measurement thin film thickness and optical constants (n and k). Also used for characterization of all types of materials: dielectrics, semiconductors, metals, organics, and more. |
J.A. Woollam เป็นผู้ผลิต Spectroscopic Ellipsometer (Ellipsometry) สำหรับวัดคุณสมบัติของฟิลม์บางโดยไม่ทำลายตัวอย่างทดสอบ เช่นวัดค่าความหนาของฟิลม์บาง ค่าคงที่ของแสง (n & k) และสามารถวัดคุณสมบัติของวัตถุอีกหลายชนิดเช่น ฉนวน, สารกึ่งตัวนำ, โลหะ และอื่น ๆ
|
| http://www.jawoollam.com/ |
| |
| |
We have six types of spectroscopic ellipsometers to fit a wide variety of applications. Search within our product lines to find the best fit for your application. Choose from
- M-2000
- VASE
- IR-VASE
- VUV-VASE
- alpha-SE
- AccuMap-SE
- T-Solar.
